電子顯微鏡按結構和作用可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發射式電子顯微鏡等。透射式電子顯微鏡常用于觀察那些用一般顯微鏡所不能分辨的細微物資結構；掃描式電子顯微鏡主要用于觀察固體表面的形貌，也能與 X射線衍射儀或電子能譜儀相結合，構成電子微探針，用于物資成分剖析；發射式電子顯微鏡用于自發射電子表面的研究。

　　投射式電子顯微鏡因電子束穿透樣品后，再用電子透鏡成像擴大而得名。它的光路與光學顯微鏡相仿。在這種電子顯微鏡中，圖像細節的對比度是由樣品的原子對電子束的散射造成的。樣品較薄或密度較低的片面，電子束散射較少，這樣就有較多的電子通過物鏡光欄，介入成像，在圖像中顯得較亮。反之，樣品中較厚或較密的片面，在圖像中則顯得較暗。如果樣品太厚或過密，則像的對比度就會惡化，甚至會因吸收電子束的能量而被損傷或破壞。

　　鏡筒的自行下滑是電子顯微鏡時常發生的故障之一。對于顯微鏡解決的辦法可分兩步舉行。

　　第一步：用雙手分別握住兩個粗調手輪，比較用力旋緊?？纯煞窠鉀Q問題，若還不能解決問題，則要用專用的雙柱板手把一個粗調手輪旋下，加一片沖突片，手輪擰緊后，若轉動非常費事，則加的沖突片太厚了，可調換一片薄的。以手輪轉動不辛苦，鏡筒高低挪動輕松，而又不自行下滑為準。沖突片可用廢照相底片和小于1毫米厚的軟塑料片用打孔器沖制。

　　第二步：檢查粗調手輪軸上的齒輪與鏡筒身上的齒條嚙合狀況。鏡筒的高低挪動是由齒輪動員齒條來實現的。齒輪與齒條的佳嚙合狀況在理論上講是齒條的分度線與齒輪的分度圓相切。在這種狀況下，齒輪轉動輕松，而且對齒條的磨損些?，F在有一種錯誤的做法，即是在齒條后加墊片，使齒條緊緊地壓住齒輪來制止鏡筒的下滑。這時齒條的分度線與齒輪的分度圓相交，齒輪和齒條的齒尖都緊緊地頂住對方的齒根。當齒輪轉動時，互相間會發生緊張的磨削。